EPCобъявила о публикации своегоОтчет о надежности этапа 15, документируя продолжающуюся работу с использованием методологии test-to-fail и добавляя конкретные показатели надежности и прогнозы для реальных применений устройств GaN, включая солнечные оптимизаторы, лидарные датчики иПреобразователи постоянного тока в постоянный.

Быстрое внедрение устройств GaN во многих разнообразных приложениях требует постоянного накопления статистики надежности и исследований фундаментальной физики отказов в устройствах GaN, включая интегрированные схемы (ИС). Также необходимо искать информацию из реального опыта, которая либо подтверждает лабораторные данные, либо поднимает новые вопросы о надежности миссии.

В этом отчете представлены результаты тестирования устройств eGaN до точки отказа, которые предоставляют информацию для определения внутренних механизмов отказа устройств. Выявляя эти внутренние механизмы отказа, разрабатываются основанные на физике модели, которые точно прогнозируют безопасный срок службы изделия в более общем наборе условий эксплуатации. Это применяется к информации, полученной из реального опыта, для определения надежности миссии для конкретных применений.

Этот отчет разделен на девять разделов, каждый из которых посвящен отдельному механизму сбоя или случаю применения:

Раздел 1: Напряжение/температурная нагрузка на затвор
Раздел 2: Напряжение/температурная нагрузка на сток
Раздел 3: Безопасная рабочая зона (SOA)
Раздел 4: Тестирование на устойчивость к короткому замыканию
Раздел 5: Испытание на механическое усилие
Раздел 6: Термомеханическое напряжение
Раздел 7: Результаты испытаний на надежность в условиях длительной импульсной нагрузки лидара
Раздел 8: Использование методологии «тест до отказа» для точного прогнозирования того, как устройства eGaN смогут прослужить более 25 лет в системах солнечной энергетики.
Раздел 9: Применение физической модели к реальным вариантам использования преобразователей постоянного тока

EPC

Перепечатано с разрешения автора.