В рамках третьего дня PCIM состоялась панельная дискуссия, модератором которой выступил главный редактор новостей Power Electronics Маурицио Ди Паоло Эмилио, посвященная качеству и отказоустойчивости приложений для электропитания. Среди докладчиков были Алекс Лидоу из EPC, Тьерри Буше из Wise Integration, Тимоти Хан из SemiQ и Кевин Спир из Microchip Technology. В ходе обсуждения была подчеркнута важность интеграции для повышения надежности, особенно в отношении схем защиты устройств GaN.

Среди предстоящих мероприятий — конференция и выставка PowerUp и Fortronic в Милане (18-19 сентября), в которых примут участие такие отраслевые эксперты, как Алекс Лидоу из EPC и Саймон Китон из onsemi. Темы будут посвящены широкополосным технологиям и другим ключевым достижениям. Известные спикеры из Infineon Technologies, PowerAmerica и STMicroelectronics поделятся своим опытом. Бесплатная регистрация на мероприятие доступна по адресу powerup.fortronic.it.

Смотрите видео ниже, чтобы узнать больше о 3-м дне PCIM: