600007 г. Владимир, ул. 16 лет Октября, д. 68А, литер "Ф", этаж 2, помещение 12
+7 (4922) 53-10-31
info@skb-proton.ru

EPC публикует отчет о надежности 16-й фазы, содержащий новые данные о надежности GaN

Технологии силовой преобразовательной техники

Эффективное преобразование мощности (EPC) недавно был опубликован отчет о надежности 16-й фазы, в котором содержится подробный отчет о текущих исследованиях, проведенных с использованием метода испытаний на отказ. Этот отчет содержит подробные рекомендации по нормативам перенапряжения и повышению термомеханической надежности.

В отличие от отчета о надежности 15-го этапа, текущая версия предлагает более полную компиляцию данных и анализ. Текущая версия включает в себя всестороннее изучение механизмов износа, которые имеют основное значение в конкретной области применения. Эта версия исследования содержит подробное объяснение того, как предсказать надежность системы в сценарии практической миссии, который включает в себя как значительные, так и небольшие периоды стресса.

В дополнение к существующей базе знаний, этот отчет содержит значительный новый материал о механизмах термомеханического износа и рекомендациях по перенапряжению. Механизмы термомеханического износа включают исследование влияния размера матрицы и формы выпуклости на надежность температурного цикла (TC). Этот отчет также включает исследование устойчивости к перенапряжениям как для затвора, так и для стока GaN транзисторы.

Настоящий отчет состоит из следующих разделов:

  • Раздел 1. Определение износа механизмов с использованием методики испытаний на отказ.
  • Раздел 2. Использование результатов тестирования на отказ для прогнозирования срока службы устройства в системе.
  • Раздел 3: Механизмы изнашивания
  • Раздел 4: Прогнозы надежности для конкретных миссий, включая использование солнечной энергии, постоянного тока и лидара.
  • Раздел 5: Резюме и выводы
  • Приложение: Правила проектирования трафаретов для пайки для надежной сборки комплектных устройств PQFN

Доктор Алекс Лидоу, генеральный директор и соучредитель EPC, утверждает, что публикация отчета о 16-й фазе отвечает важнейшему требованию для непрерывного исследования надежности устройств GaN. Этот документ дает важную информацию о надежности выполнения задач, гарантируя, что устройства способны удовлетворять требованиям широкого спектра применений.