EPC объявляет о своем Отчет о надежности этапа 14, документирующий стратегию, использованную для достижения замечательных показателей надежности в полевых условиях. Быстрое внедрение устройств GaN во многих разнообразных приложениях требует постоянного накопления статистических данных о надежности и исследований фундаментальной физики отказов в Устройства GaN. Тот Отчет о надежности этапа 14 представлена стратегия, используемая для измерения и прогнозирования срока службы на основе тестов, которые приводят к отказу устройств в различных условиях. Эта информация может быть использована для создания более мощных и высокопроизводительных продуктов для таких приложений, как лидар для автономных автомобилей, робототехники, безопасности и многого другого.

В этом отчете представлены результаты тестирования устройств eGaN до точки отказа, которые предоставляют информацию для выявления внутренних механизмов отказа устройств. Выявляя эти внутренние механизмы отказа, можно получить глубокие знания о поведении устройства с течением времени, температуры, электрических или механических нагрузок и использовать их для создания моделей, основанных на физике, которые точно прогнозируют безопасный срок службы изделия в более общем наборе условий эксплуатации.

Этот отчет разделен на восемь разделов, каждый из которых посвящен отдельному механизму сбоя:

Раздел 1: Внутренние механизмы отказа, воздействующие на электрод затвора электронных устройств; Раздел 2: Внутренние механизмы, лежащие в основе динамического R_DS(вкл.); Раздел 3: Применение физической модели к обычным случаям использования в реальном мире; Раздел 4: Безопасная рабочая зона (SOA); Раздел 5: Тестирование устройств на разрушение в условиях короткого замыкания; Раздел 6: Пользовательский тест для оценки надежности в условиях длительной импульсной нагрузки лидара; Раздел 7: Испытание на механическое силовое напряжение; Раздел 8: Термомеханическое напряжение

По словам доктора Алекса Лидоу, генерального директора и соучредителя EPC, “Выпуск отчета о надежности EPC за 14-ю фазу отражает совокупный опыт миллионов устройств и пяти поколений технологий, что позволяет глубже понять поведение устройств GaN в широком диапазоне стрессовых условий”.