
Корпорация эффективного преобразования энергии (EPC) компания представила две новые микросхемы каскада питания 100 В, рассчитанные на 15 А (EPC23104) и 25 А (EPC23103). Эти два устройства подключаются к 100 В 35 А ePower ICEPC23102, уже предлагаемому EPC. Три микросхемы имеют максимальное выдерживаемое напряжение 100 В и объединяют в себе полный Гвинед полумостовой силовой каскад, включающий симметричные полевые транзисторы в полумостовой конфигурации, полумостовой драйвер, переключатель уровня, загрузочную зарядку и логический интерфейс ввода.
Все три устройства имеют термически улучшенный корпус QFN размером всего 3,5 x 5 мм с возможностью смачивания боковых сторон и открытой верхней частью для двустороннего охлаждения. Заказчики могут совершенствовать свои конструкции для повышения производительности или удешевления без необходимости модификации платы благодаря совместимости с размерами, что упрощает адаптацию к меняющимся требованиям к нагрузке.
При напряжении от 28 до 60 В постоянного тока в компьютерных, промышленных приложениях и приложениях USB PD 3.1 устройства могут работать с превосходной эффективностью на высоких частотах переключения (не более 3 ГГц) и обеспечивают более высокую производительность и уменьшенные размеры решения.
Устройство может работать с небольшим временем простоя (21 нс) и частотой 100 кГц при напряжении от 32 до 48 В BLDC электроприводы для электронной мобильности, робототехники, электроинструментов и беспилотных летательных аппаратов повышают эффективность системы за счет снижения потерь в сердечнике двигателя и вибрации, а также сокращают количество электролитических конденсаторов или вовсе отказываются от них.
Платы разработки EPC90151 и EPC90152 представляют собой демонстрационные платы с полумостами, каждая из которых содержит микросхему ePower Stage (EPC23103 или EPC23104). Цель советов директоров ’ упростить оценку EPC23103 и EPC23104. Эти платы размером 2 «x 2» (50,8 мм x 50,8 мм) сконструированы для обеспечения наилучших характеристик коммутации и включают в себя все необходимые детали для быстрого тестирования.
Свежие комментарии