600007 г. Владимир, ул. 16 лет Октября, д. 68А, литер "Ф", этаж 2, помещение 12
+7 (4922) 53-10-31
info@skb-proton.ru

Графическое семейство SMU от Keithley позволяет тестировать материалы и устройства напряжением до 1100 В

Технологии силовой преобразовательной техники

Спрос на более эффективные высоковольтные
полупроводники в 5G, автомобилестроении, альтернативной энергетике и других областях применения
побуждает исследователей искать новые материалы, включая SiC и GaN. Эти
полупроводники с широкой запрещенной зоной создают все более сложные задачи тестирования при исследованиях
и разработке продуктов, а также при производстве. В частности, испытательные
приборы должны быть способны выдерживать высокие уровни напряжения и быстро и
точно измерять низкий ток.

Чтобы удовлетворить это растущее требование, Тектроникс компания представила блок измерения источника Keithley 2470 SourceMeter. Новейший представитель семейства графических SMU от Keithley может тестировать материалы и устройства напряжением до 1100 В и измерять низкий ток с разрешением 10 фА. Он включает в себя 5-дюймовый. емкостный сенсорный дисплей с полным сенсорным управлением делает тестирование интуитивно понятным и сводит к минимуму время обучения.

2470 оптимизирован для характеристики
и тестирования широкого спектра высоковольтных устройств, материалов и
модулей с низким уровнем утечки. В дополнение к SiC и GaN, он хорошо подходит для использования с питанием
МОП-транзисторы, устройства подавления переходных процессов, устройства защиты цепей, силовые
модули, батареи и многое другое. Эти новые возможности делают 2470 “
универсальным прибором” для измерения источников высокого напряжения и низкого тока в
лабораторных условиях и на производственных испытательных стендах.

2470 представляет четвертое
поколение измерителей SMU от Keithley и предлагает очень гибкий четырехквадрантный
источник напряжения и тока / нагрузку в сочетании с точными измерениями напряжения и тока
.

Как и другие представители семейства 2400 от Keithley, новый 2470 обладает сенсорным пользовательским интерфейсом Test Invent. Как показано ниже, его простая структура меню на основе значков сокращает количество шагов, необходимых для настройки теста, на целых 50% и устраняет громоздкие многослойные структуры меню. Встроенная контекстно-зависимая справка поддерживает интуитивно понятное управление и сводит к минимуму необходимость просмотра отдельного руководства. Эти возможности в сочетании с высокой универсальностью прибора 2470 упрощают его эксплуатацию как в базовых, так и в расширенных измерительных приложениях, независимо от предыдущего опыта пользователя в работе с приборами SMU.

Для получения дополнительной информации посетите www.tek.com